- 12/05/2014
- Montevideo, Uruguay
Del 12 al 15 de mayo se celebra en Montevideo (Uruguay) la Conferencia I2MTC IEEE 2014, un encuentro de referencia internacional para la investigación, el desarrollo y las aplicaciones en el campo de la instrumentación y medición de la ciencia y la tecnología, y incluye una visión de la fusión entre aplicaciones prácticas y tecnologías industriales utilizadas cotidianamente por las empresas.
Bajo el lema «Instrumentación y medición para el desarrollo sostenible», esta edición pretende fomentar el intercambio de conocimientos entre la industria y la academia y apusta por diferentes formatos para integrar una amplia variedad de actividades en su programa.
Los principales ejes temáticos propuestos son:
- Avances en la instrumentación, desarrollos y técnicas de medición.
- Sistemas biomédicos.
- Sistemas y técnicas de adquisición de datos.
- Energía y sistemas de potencia.
- Control de procesos industriales.
- Medición e instrumentación para aplicaciones industriales.
- Aplicaciones de medición.
- Medición de energía y cantidades magnéticos
- Medición de materiales y cantidades mecánicas
- Medición, Instrumentación y metodologías relacionadas con los sistemas de salud
- Sistemas de medición y teoría
- Técnicas de medición no invasiva e Instrumentación
- Medición en tiempo real
- Robótica y Controles
- Sensores y Fusión
- Señal y técnicas de procesamiento de imágenes
- Desarrollo de Software para Medición y Soporte Instrumentación
- Las técnicas relacionadas con Instrumentación
- Transductores
- Sistemas de medición virtuales
- Sensores y Sistemas Inalámbricos
Entre los invitados expertos para las conferencias presenciales, I2MTC IEEE 2014 contará esta edición con la participación de especialistas de referencia como: Pasquale Arpaia (University of Sannio, Benevento, Italy; y European Organization for Nuclear Research (CERN)), David R. Leibrandt (National Institute of Standards and Technology, USA; Time and Frequency Division) y Thomas Linnenbrink (2014 Keithley Award Winner; Teqovations, LLC, USA).
Más información: IEEE IMS